測(cè)試探針是一種用于檢測(cè)、監(jiān)測(cè)或獲取目標(biāo)對(duì)象相關(guān)信息的工具或裝置，在不同領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用，其具體作用因應(yīng)用場(chǎng)景而異，以下為你詳細(xì)介紹：

在電子與電路領(lǐng)域

用于探測(cè)電路中的電壓、電流、電阻等電信號(hào)，幫助工程師確定電路是否正常工作。例如，在電路板調(diào)試時(shí)，通過(guò)探針接觸焊點(diǎn)或?qū)Ь€，可測(cè)量該點(diǎn)的電位，判斷是否存在短路、斷路或元件損壞等問(wèn)題，能快速定位電路中的故障點(diǎn)，如芯片引腳的信號(hào)是否正常傳輸，從而提高維修和調(diào)試效率。

性能測(cè)試與參數(shù)測(cè)量

可獲取電路在不同工作狀態(tài)下的參數(shù)，如頻率響應(yīng)、信號(hào)完整性等。例如，在高頻電路測(cè)試中，探針需具備低電容、低電感的特性，以減少對(duì)被測(cè)電路的影響，準(zhǔn)確測(cè)量信號(hào)的幅度、相位等，用于集成電路（IC）的晶圓測(cè)試階段，探針卡上的探針與芯片的焊盤接觸，實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片功能和性能的批量測(cè)試，篩選出不合格的芯片。

在工業(yè)與制造業(yè)

生產(chǎn)過(guò)程監(jiān)測(cè)，在自動(dòng)化生產(chǎn)線上，探針可實(shí)時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品的尺寸、形狀、位置等物理參數(shù)。例如，機(jī)械加工中，通過(guò)探針測(cè)量工件的孔徑、平整度，確保加工精度符合要求。

用于監(jiān)測(cè)設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)，如溫度探針可檢測(cè)電機(jī)、軸承等部件的溫度，防止過(guò)熱損壞；振動(dòng)探針可監(jiān)測(cè)設(shè)備的振動(dòng)幅度，預(yù)警機(jī)械故障。

質(zhì)量控制與檢測(cè)

對(duì)成品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，如探針式硬度計(jì)通過(guò)壓頭探針測(cè)試材料的硬度，判斷產(chǎn)品是否達(dá)到質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

在半導(dǎo)體封裝測(cè)試中，探針用于連接封裝后的芯片引腳，進(jìn)行功能測(cè)試和可靠性驗(yàn)證。