射頻探針是一種測量裝置，用于電子測試設(shè)備，對(duì)硅片、管芯及開放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號(hào)進(jìn)行測量。此外，射頻探針還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。
射頻探針開發(fā)于1980年，在此之前，由于沒有一種能夠在無需安裝或貼合狀態(tài)下對(duì)單片微波集成電路（MMIC）裝置進(jìn)行測試的簡便方法，因此測試過程常常使得電路完整性遭到破壞，引發(fā)系統(tǒng)干擾或降低電力負(fù)載。
種類
01固定式探針
一般測試PCB不同間距的測試點(diǎn)，在機(jī)箱內(nèi)部的自動(dòng)化機(jī)械手臂上，配對(duì)使用。
02電纜式探針
將一對(duì)半剛電纜，剝出芯線安裝在同一個(gè)夾具內(nèi)部，接觸端的電纜折彎成固定間距，手動(dòng)測試。
03晶圓探針
用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試，精密度和測試頻率較高。
04pogo pin探針
pogo pin 是一種有針軸、彈簧、針管三個(gè)基本部件組成的結(jié)構(gòu)，探針整體是具有一定行程和彈力。

工作原理
射頻測試探針通過其探針頭與待測電路接觸，將電路中的射頻信號(hào)引導(dǎo)至測量設(shè)備。探針的設(shè)計(jì)需考慮高頻信號(hào)傳輸特性，包括阻抗匹配和信號(hào)完整性，以確保測量的準(zhǔn)確性。
應(yīng)用領(lǐng)域
射頻針主要用于高頻RF，射頻和微波模塊等信號(hào)插入、檢測和測量輸出，高頻電路板電氣性能分析。
具備能通過的信號(hào)比較集中，損耗少的特性，在高速數(shù)字電路板、微波芯片的測試中，對(duì)于射頻探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。
射頻探針的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)復(fù)雜，部件多，附價(jià)值高，多以訂制為主。

如何選擇合適探針
由于待測設(shè)備的性質(zhì)和構(gòu)成非常敏感且通常較為精細(xì)，因此射頻電路的測量往往是一項(xiàng)棘手任務(wù)。
高可靠性射頻測量中困擾最多的兩大問題是：
頻率太高時(shí)，當(dāng)前測試設(shè)備無法進(jìn)行射頻能量的測量。
當(dāng)待測電路對(duì)電氣環(huán)境中的微小變化敏感時(shí)，測量中要求頻率或幅度不發(fā)生擾動(dòng)。
這些問題可通過采用對(duì)待測電路的能量擾動(dòng)盡可能小的測量探針解決，其中，高阻抗探針中的放大器能夠平衡待測電路的受擾能量。
?與測試射頻的阻抗匹配
在射頻電路系統(tǒng)測試中，探針與測試設(shè)備的阻抗匹配對(duì)于能否實(shí)現(xiàn)有效的功率傳輸而言至關(guān)重要。然而，隨著測試頻率越來越高，以及對(duì)測試誤差的要求越來越嚴(yán)格，上述阻抗匹配變得越來越困難。
?接觸測試點(diǎn)、頻率或數(shù)據(jù)速率、探針可用空間以及環(huán)境條件
在射頻測試領(lǐng)域中，射頻測試探針分為多種不同類型，如何選擇合適的探針取決于對(duì)待接觸測試點(diǎn)、頻率或數(shù)據(jù)速率、探針可用空間以及環(huán)境條件的考量。將來，射頻探針需要具有測試更小焊盤及多個(gè)信道的設(shè)計(jì)能力，以及同時(shí)覆蓋多種毫米波、射頻、邏輯和功率信道測量范圍的能力。