射頻探針在射頻產(chǎn)品的生命周期中每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開(kāi)發(fā)，到模型參數(shù)提取，再到設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到最后的小規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試和最終的生產(chǎn)測(cè)試。通過(guò)使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次上測(cè)量射頻組件的真正特性。

華榮華測(cè)試探針工廠的工程師在射頻探針技術(shù)上取得了突破。確定了射頻探針的基本要求和工作原理：

1） 探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€(xiàn)應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線(xiàn)。對(duì)于微帶線(xiàn)和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。

　　2） 為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“探針的平面化”。

　　3） 探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專(zhuān)用校準(zhǔn)方法的開(kāi)發(fā)。

　　4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線(xiàn)和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類(lèi)似的方式而抵消的。

　　5） 由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來(lái)很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。